bowman台式膜厚仪

元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。镀层厚度*薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。

小孔准直器（*小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。*移动平台（定位精度小于0.005mm）。

任意多个可选择的分析和识别模型。 bowman台式膜厚仪相互独立的基体效应校正模型。多次测量重复性可达0.05um（对少于1um的*外层Au）。

长期工作稳定性为0.1um（对少于1um的*外层Au）。温度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

 bowman台式膜厚仪尺寸：576 x 495x545 mm重量：90 kg标准配置开放式样品腔。精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机

 bowman台式膜厚仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和*的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。特别适合于对微细表面积或*镀层的测量。 bowman台式膜厚仪测量更小、更快、更薄bowman比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套*系统完成的。

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