激光单粒子效应实验系统是采用超短脉冲激光模拟单粒子效应SEE的单粒子效应试验系统,它还可以研究单粒子效应的半导体器件辐射硬化和集成电路单粒子效应辐射硬化,广泛用于激光单粒子翻转测试实验SEU,激光单粒子瞬时效应测试SET,单粒子闩锁性能测试实验SEL,单粒子栅击穿实验测试SEGR,单粒子烧毁试验测试SEB。

激光故障注入系统是为集成电路安全性评估设计的laserfaultinjection系统和激光故障注入显微镜,方便对集成电路进行激光故障注入测试分析。1111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111

光子辐射显微镜是为集成电路失效分析设计的Photoemission光子辐射定位系统,,可采集集成电路背部发射的红外光子,观察分析半导体的光子辐射,进而对半导体集成电路失效分析测试。

热激光激发显微镜采用ThermalLaserStimulation-TLS技术,配备高清光学显微镜和高功率激光器,聚焦定位集成电路板元器件进行失效分析。热激光激发显微镜TLS的激光束可局部加热元器件,读取晶体管电流消耗数据，评估电子元器件失效与否。111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111