供应美国博曼半导体接收器镀层膜厚测试仪

美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分

析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，BOWMAN膜厚仪高分

辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所

有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、

双镀层等 ，应用于端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业

半导体美国BOWMAN X射线荧光膜厚测试仪这款型号的主要针对应用客户群体是：PCB线路板厂，五金制品厂，汽车配件厂， 卫浴水*，螺丝厂，等等五金类企业。它的主要设计是测量样品室非常之大，同时可能非常方

便地测量一些不规则的五金工件样品。