供应X荧光射线膜厚测试仪

X-RAY镀层膜厚仪 在技术上一直以来都良好于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定*多4层及24种元素。
B ：精确度良好于世界，精确到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，*小可达0.025 x 0.051毫米
BOWMAN博曼元素膜厚仪它特别为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计。这些首饰和贵金属包括黄白金，铂和银，铑，硬币以及所有的首饰合金和镀层,BOWMAN博曼元素膜厚仪测量准确，使用安全简便，坚固*节省维护费用。而且，它符合标准 。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定。博曼膜厚测试仪元素膜厚仪可以测量测量未知样品还是测定未知材料.可测量．单层．双层，合金层等多种镀层．深圳金霖以*优的服务．为您提供良好的解决方案.