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X-RAY镀层膜厚测试仪 在技术上一直以来都良好于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定*多4层及24种元素。
B ：精确度良好于世界，精确到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，*小可达0.025 x 0.051毫米
博曼电镀膜厚测试仪主要特点
★搭载样品尺寸的兼容性，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品
★具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量
★彩色CCD摄像头，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。
★卤素灯照明
博曼镀银膜厚测试仪 应用领域：
1、分析电子部品电镀层的厚度
2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析。
有需要的朋友请来电咨询希望我们能成为长期的合作伙伴！联系人：周小姐，联系电话：0755-29371651
