深圳市易捷测试技术有限公司探针台系统：芯片测试、晶圆测试、在片测试、射频探针、射频校准、芯片光耦合、功放测试，存储芯片测试，S参数测量，功率器件测试，芯片CP测试，MEMS测试，CONTROLLER测试，PA测试， MMIC，存储器件测试，高低温探针台在片测试，大功离线地图半导体测试，晶圆可靠性测试，高低温探针台在片测试，功率芯片测试， on-wafer test。
一、毫米波探针台：TS-150THZ
150mm手动探针台
太赫兹在片测试
特点：
1、准确无误mm-wave毫米波和亚毫米波太赫兹（THz）频率范围内的测量
单机多应用设计
2、无缝整合各种宽带毫米波模块，适合多种微波/毫米波应用测试
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二、硅光子自动探针系统：TS3000-SiPH
领.先的硅光子自动测试解决方案
光电测试、芯片光耦合
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三、200mm自动探针台：TS2000-SE
精.准可靠的射频和微波测量，失效分析，可靠性测试。
微波射频测试、电感RF测试、直流光电测试
利用易捷在片测试软件控制全自动机台，搭配直流定-位-器和直流探针，高低温探针台在片测试，进行蓝膜上PD器件DC自动测试，射频测试，直流光电测试，MEMS器件测试，射频光电测试、功率器件在片测试。
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四、硅光探针台：TS3000
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光电测试系统，深圳市易捷测试技术有限公司,高低温探针台在片测试,易捷测试技术,硅光子测试
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深圳市易捷测试技术有限公司，品牌：GBITEST。 致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装系统以及材料测试等系统集成方案。特别是我们提供的探针台系统，已被全球客户广泛地应用于I-V／C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、光电器件测试，硅光子测试、晶圆级失效分析、芯片光耦合，霍尔测试，CP测试等晶圆测试环节。
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1）大功率探针台
2）150mm探针台
3）200mm自动探针台
4）300mm全自动探针台
5）6寸手动探针台，8寸自动探针台，12寸自动探针台
6）在片测试
7）探针台控制软件
8）高低温探针台
9）探针台CASCADE
10）全自动探针台
11 ）手动探针台
12）半自动探针台
13）太赫兹探针台
14）毫米波探针台
15）硅光探针台
16）辐照探针台
17）高压高流测试系统，cv测试系统
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