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厂家*天光测控ST-DC2000_X 系列半导体特性测试仪

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品牌: 天光测控
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-05-13 15:10
浏览次数: 59
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明
  

1、测试范围: IGBT,MOSFET,二极管;三极管,可控硅,光耦,继电器等19类器件;

2、用途:静态直流参数测试(击穿电压,漏电流,阈值电压,饱和电压,压降等等)

3、测量精度:1mV / 10pA

4、规格:2000V,50A/100A/250A/750A/1KA/1.25KA

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