功率器件热特性测试系统

型号：ST-Thermal_X 
名称：功率器件热特性测试系统
功能：用于 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的热特性测试      
试验能力
 功率循环 · 秒级 / Pcsec

 功率循环 · 分钟级 / PCmin

 被动循环 / TC

 热阻（抗）/ Rth/Zth

 K曲线 / Kcurve