菲希尔美国BOWMAN（博曼）膜厚测试仪

美国BOWMAN（博曼）PCB板X-RAY膜厚测试仪设备遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497*，主要基于WinFTM? V6L核心控制软件

的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用*新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco

Controlled Measurement）及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚

至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或*镀层的测量

，美国BOWMAN（博曼）PCB板X-RAY膜厚测试仪的实用性:无数次的*发明,包括使用DCM 自动对焦方法和透明的准值器，操作简单。

不用调校X-射线管的距离也可测量，操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。其它X-RAY *无此方法需要每次重复对焦，测量较

繁琐。多年来，我们一直致力于为五金，电镀，端子。连接器，PCB 厂商，为电镀行业，科研机构，半导体生产等电子行业提供高性

能的仪器和*的售后服务，金霖欢迎各行业的朋友来电咨询。
联系人：陈小姐13602569417   固定电话：0755-29371652   地址：深圳沙井北环大道110号新桥综合大楼502