出售BOWMAN）线路板X-RAY半导体膜厚测试仪

美国博曼（BOWMAN）线路板X-RAY半导体膜厚测试仪是为快速无损地分析珠宝首饰、贵金属而设计 用途：检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述元素范围铝13到铀92。x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率?测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
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